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致真精密仪器(青岛)有限公司生产的多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统,以自主设计的光路结构及奥林巴斯、索莱博光电元件为基础制造,适用于磁性材料/ 自旋电子器件的磁畴成像和动力学研究。
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。
日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量为简单。
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX是款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。
激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数:热导率(导热系数)、热扩散系数及比热容。