NEXT-TIP SL公司成立于2012年，是西班牙国家研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针尖增强拉曼探针和纳米红外探针，基于纳米粒子沉积技术，形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层，具有超高的横向分辨率，大大提高了使用寿命。

美国easyXAFS公司推出的x射线近边吸收谱（XAFS/XES），采用*的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以*的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究域，实现对元素的测定、定量和价态分析等。

美国easyXAFS公司推出的X射线吸收精细结构谱（XAFS/XES），采用*的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以*的灵敏度和光源质量，广泛应用在催化、电池等研究域，实现对元素的测定、定量和价态分析等。

致真精密仪器（青岛）有限公司生产的多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统，以自主设计的光路结构及奥林巴斯、索莱博光电元件为基础制造，适用于磁性材料/ 自旋电子器件的磁畴成像和动力学研究。

聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。