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  • TERS/Nano IR探针超高分辨TERS针尖增强拉曼探针/Nano IR纳米红外探针
    TERS/Nano IR探针超高分辨TERS针尖增强拉曼探针/Nano IR纳米红外探针

    NEXT-TIP SL公司成立于2012年,是西班牙国家研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针尖增强拉曼探针和纳米红外探针,基于纳米粒子沉积技术,形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层,具有超高的横向分辨率,大大提高了使用寿命。

    更新时间:2022-08-15型号:TERS/Nano IR探针浏览量:159
  • XAFS/XESx射线近边吸收谱
    XAFS/XESx射线近边吸收谱

    美国easyXAFS公司推出的x射线近边吸收谱(XAFS/XES),采用*的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以*的灵敏度和光源质量,广泛应用在催化、电池等研究域,实现对元素的测定、定量和价态分析等。

    更新时间:2022-04-11型号:XAFS/XES浏览量:312
  • XAFS/XESX射线吸收精细结构谱
    XAFS/XESX射线吸收精细结构谱

    美国easyXAFS公司推出的X射线吸收精细结构谱(XAFS/XES),采用*的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以*的灵敏度和光源质量,广泛应用在催化、电池等研究域,实现对元素的测定、定量和价态分析等。

    更新时间:2022-04-11型号:XAFS/XES浏览量:252
  • 暂无多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统
    暂无多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统

    致真精密仪器(青岛)有限公司生产的多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统,以自主设计的光路结构及奥林巴斯、索莱博光电元件为基础制造,适用于磁性材料/ 自旋电子器件的磁畴成像和动力学研究。

    更新时间:2020-12-28型号:暂无浏览量:413
  • ZEM-d聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统
    ZEM-d聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统

    聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。

    更新时间:2022-01-13型号:ZEM-d浏览量:727
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