聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。

日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。

石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX是款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。

激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数：热导率（导热系数）、热扩散系数及比热容。

大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM可以在大气环境下，对负荷温差的热电材料产生的发电量和热流量进行测量，热电转换效率可以通过大发电量和热流量计算出。同时，该系统还可以长时间运行热循环测试，运用于热电新材料的开发，以及商用组件在负载和温度下的耐久性测试。