X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之，是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的，至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之，被广泛的应用于科学研究和工业生产的各域。2012年日本Pulstec公司开发出基于全二维探测器技术的残余应力分析仪——μ-X360n，将用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了个全新的高度，设备推出不久便得到业界好评

X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之，是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的，至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之，被广泛的应用于科学研究和工业生产的各域。2012年日本Pulstec公司开发出基于全二维探测器技术的新代X射线残余应力分析仪——μ-X360n，将用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了个全新的高度，设备推出不久便得到业界好评