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新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低电压透射电子显微镜，配备了五种成像和分析模式，把实验室材料表征研究推向一个新高度。超快的样品切换和增强的自动化功能使LVEM 25E成为常规成像应用中十分实用且易用的工具。新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E能从标准制备的样品中获得对比度好、细节丰富的图像，并能在减少染色的情况下获得同等细节水平的图像。
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——TEM、STEM、SEM、EDS和ED五种模式
LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低电压透射电子显微镜，配备了五种成像和分析模式，把实验室材料表征研究推向一个新高度。超快的样品切换和增强的自动化功能使LVEM 25E成为常规成像应用中十分实用且易用的工具。LVEM 25E能从标准制备的样品中获得对比度好、细节丰富的图像，并能在减少染色的情况下获得同等细节水平的图像。
LVEM 25E不仅可以测量内部和外部结构，还可以分析样品的化学成分，所有这些功能均在一台设备上完成。先进的软件设计，可通过自动设置镜筒对中和光阑位置来协助用户分析样品。
五种成像模式
☆ 配备TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式
☆ 通过直观的软件轻松切换成像模式
☆ TEM和STEM模式下的明场和暗场测量
☆ SEM模式（BSE）用于表面测量
☆ 能量色散光谱（EDS）用于元素分析
☆ 电子衍射（ED）用于了解晶体结构
*集成和紧凑的设计
☆ 设计紧凑、节省空间
☆ 几乎可以在任何实验室环境中进行单插头安装
☆ 没有特殊的设施要求（不需要冷却、电源或防震隔离）
对标准样品的高对比度和分辨率
☆ 对生物和轻型材料样品具有超高的对比度
☆ 无需染色
☆ 电子加速电压：10, 15, 25 kV
☆ 图像分辨率高达 1.0 nm
☆ 专为传统制备的样品设计
☆ 超快的样品切换
测试数据
LVEM 25E配备了TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式，为用户提供了独·特的选择。用户可以从一个样品中获得多种数据结果，通过直观的LVEM软件即可在各种成像模式之间轻松切换。
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