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塞贝克系数/电阻测量系统

塞贝克系数/电阻测量系统

简要描述:塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的点,塞贝克系数和电阻都可以用种仪器来测量。

产品型号: ZEM

所属分类:热电测量

更新时间:2021-02-20

厂商性质:生产厂家

详情介绍
品牌其他品牌应用领域电子,交通,冶金,汽车,综合

 塞贝克系数/电阻测量系统ZEM

 

               ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻                             

 

产品介绍:

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的点,塞贝克系数和电阻都可以用种仪器来测量。

 

产品点:

♦  拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;

♦  测量是由计算机控制的,并且能够在定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;

♦  欧姆接触自动检测功能(V-I图);

♦  可以用适配器来测量薄膜;

♦  可定制高阻型。 

 

产品结构:

 

样品腔部分:

 

工作原理图:

应用方向:

对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。

 

可选功能:

1. 薄膜测量选件

 

2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)

3.高阻选件(可高达10MΩ)

 

参数配置:

型号 ZEM-3M8ZEM-3M10
温度范围50-800℃50-1000℃
样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL
加热方式红外加热
气氛高纯氦气(99.999%) 
样品温差 MAX.50℃ 
测量方式电脑全自动测量

附:

热电材料/器件测试设备

20200228-63784726.png

测试数据

烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果

 

发表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

 

用户单位

清华大学

中国科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

中国科学院上海硅酸盐研究所

中国科学院大连化学物理研究所



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