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UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统

UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统

简要描述:UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统是由美国RHK Technology公司制造的,主要点包括:
- PAN STM/AFM扫描头体积小(2.96"X1.55")
- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动(5mmX5mmX10mm)
- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围
- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统,原位针尖与样品更换
- 兼容多种Flow

产品型号: PAN-STM/AFM

所属分类:表面成像分析

更新时间:2017-03-14

厂商性质:生产厂家

详情介绍

UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统 

UHV Pan式低温扫描探针显微镜系统是由美国RHK Technology公司制造的,主要点包括:
- PAN STM/AFM扫描头体积小(2.96”X1.55”)

- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动(5mmX5mmX10mm)
- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围

- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统,原位针尖与样品更换

- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体
- 与RHK全数字R9控制器同使用
适用于拓扑缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。

 
 

主要技术参数:

- 工作模式:STM与非接触式AFM
- 温度范围:<300mK; RT; VT; HT
- X-Y-Z位移范围:5mmX5mmX10mm


- 扫描范围:5umX5um (RT)
- 样品尺寸:10mmX10mm
- 扫描头尺寸:40mmX70mm

 

结构紧凑,体积小:
内置减震系统、可水平或垂直放置

UHV Pan式低温扫描探针显微镜系统结构其紧凑,核心部分尺寸在~40X70mm左右;内置有弹簧和涡流阻尼减震系统;根据用户的要求,可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种;初次之外,它兼容常用的低温恒温器和磁体,并提供相应的集成方案。

 

 

原位样品与探针更换

操做简单、快速;性能可靠

在低温和超高真空环境中,样品和针尖的原位更换直是使用者非常关心的问题。为此,RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针尖更换装置,并提供了多个样品与针尖的放置室。

Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样,可充分满足各种实验要求,如原位加热、样品剥离、样品轰击等等;同时,它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。

 

兼容各种磁体和恒温器


为充分满足科学家的要求,RHK与*磁体和恒温器制造商紧密合作,开发了低温扫描探针显微镜整机系统和立扫描头模块系统,根据用户的殊要求提供了整套的解决方案。

RHK公司将上*的全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫描探针显微镜中,集中研发力量,推出了噪音低的R9扫描控制系统和IVP-R9前置放大器。

 

 

应用案例:


Si(111)表面7X7重构,4K

 

Bi2Se3表面形貌,4K

 



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