真空集成的低温STM/AFM显微镜，解决样品非原位测试

     继2016年底超高真空无液氦低温STM/AFM系统PanScan Freedom-LT在中科院物理所张建军教授实验室顺安装并通过验收后，该系统于本月成功与套MBE（分子束外延）系统实现真空互联。这是PanScan Freedom-LT第二次在国内实现真空集成，凸显了PanScan Freedom-LT在该方面的显著势。这次真空集成设计和接口模块均由美国RHK Technology公司提供，充分展现了其在大型真空设备互联方面的丰富经验和用心服务客户的良好精神。

互联的无液氦低温STM/AFM(PanScan Freedom-LT)与MBE系统 

    PanScan Freedom-LT因其异的隔振性能，以及无液氦制冷的操作简便性，非常适合在复杂超高真空系统中进行集成。即使实验环境中有机械泵，分子泵，冷凝泵，以及空气压缩机等强噪声源，PanScan Freedom-LT仍然能够保持低的噪音水平，得到原子分辨图像。中科院张建军教授课题组集成的半导体薄膜MBE以及PanScan Freedom-LT（低温STM/AFM），具备表面材料zui*的制备和表征手段，是研究薄膜材料和微纳器件的强大武器。

     此次真空互联解决了样品非原位传输过程中样品易受外界环境污染的问题，为获取高质量的实验结果提供了有力保证。我们期待张建军教授课题组在未来的科学研究工作中取得更大的成就！