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技术讲座:如何实现厘米二维材料电学性的无损、快速表征?

更新时间:2021-11-30点击次数:1175

 

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报告简介:

 

如何在不破坏样品的前提下,对大尺寸石墨烯等二维材料的电学性质进行准确快速的测量,是在提升样品质量并推进其实际应用中,亟待解决的重要问题。常规的四探针电阻测量法、原子力显微镜、共聚焦拉曼等表征方法存在测量尺寸小、效率低、对样品有损伤等缺点而无法胜任。

 

在本报告中,我们将结合来自《nature》《science》等期刊的新文献,介绍种技术,它采用非接触式方式,快速准确且高效的实现大尺寸石墨烯等二维材料的无损测量,得到电导率、电阻率、载流子和均匀性等分布信息。此方法同样适用于其他二维材料、半导体薄膜、光伏薄膜的电学性质测量。该方法已经成功应用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企业,并且其对于石墨及其他二维材料电学测量方法已经成为IEC(国际电工委员会,是性的标准化门机构) TS 62607-6-10:2021(E)的标准规范[1]

 1. https://webstore.iec.ch/publication/28888

 

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报告时间:

2021年12月02日 14:00

 

主讲人:


 

弓志宏,物理学硕士,2016年毕业于北京理工大学。主要研究方向为激光光谱学与技术、光与低维半导体纳米结构相互作用以及时间分辨发光动力学等。现担任Quantum Design中国子公司产品经理,多年来直负责低维材料光学,电学物性测量设备的应用开发,技术支持和市场拓展。


技术线上论坛:

https://qd-china.com/zh/n/2004111065734

 

相关产品:

1.石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX

https://www.chem17.com/product/detail/33762952.html

 

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