8月31日《实验室台式X射线发射谱（XES）的技术发展与前沿应用》

报告简介：

X射线发射谱（XES）技术主要涉及种二次光电子过程，通过调制入射 X 射线的能量以及通过高分辨谱仪收集器收集荧光信号，可以获得各种 X 射线发射谱。相比于常规 X射线吸精细结构谱（XAFS），XES谱图具有更高的能量分辨率，和 XAFS 方法相辅相成，从而获取全轨道的电子结构以及原子结构信息。但由于通常依赖于同步辐射X射线光源，大大限制了其在各域的大范围应用。为了突破这限制，美国easyXAFS公司研发出了新的台式XES（XAFS300+）。该装置无需同步辐射光源，在常规实验室环境中即可实现XAFS和XES双功能测试。本报告将结合近年来实验室台式XES谱仪的发展技术，及研究组的新实验结果，详细阐述台式XES的基本原理、技术发展及在多域的些应用案例，后展望其在日常实验室研究中的巨大潜力。

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报告时间：

2021年8月31日 14:00

主讲人：

张科  博士

同步辐射及应用业博士，毕业于中国科学技术大学国家同步辐射实验室，上海交通大学化学化工学院博士后。主要研究方向为无机纳米功能材料的同步辐射表征及在能源存储和转换域的应用。目前，就职于Quantum Design中国子公司，从事表面光谱相关设备的应用开发、技术支持及市场拓展等业务。

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https://qd-china.com/zh/n/2004111065734