010-85120887

技术文章

TECHNICAL ARTICLES

当前位置:首页技术文章新一代X射线单晶定向系统s-Laue,60s高效测试,邀您体验!

新一代X射线单晶定向系统s-Laue,60s高效测试,邀您体验!

更新时间:2024-02-21点击次数:134

       单晶体的最大特点是各向异性,这也意味着无论在制备、使用还是研究单晶体时,都必须知道其取向。例如,在Si半导体集成器件和大规模集成电路的制备中,就需表面为{1 1 1}或{1 0 0}面的基片。此外,在晶体缺陷和相变的研究中,也需要考虑单晶体的位向问题。

 
       X射线衍射方法的出现,在无损、准确地解决单晶定向难题的基础上,还能提供晶体内部微观完整性的信息。日本Pulstec公司基于特殊的圆形全二维面探测器技术研发推出了新一代X射线单晶定向系统s-Laue。该设备配备六轴样品台,具有功率小(30 KV/1.5 mA)、操作简单测试效率高(典型测试时间为60秒)等特点。同时,s-Laue提供台式便携式两种类型设备,即能满足实验室小样品单晶定向需求,还可用于大型零件的现场晶体定向应用。
 
新一代X射线单晶定向系统s-Laue
 
部分用户单位:
 
       由于上述突出的特点和明显的优势,s-Laue自推出以来受到科研工作者的广泛关注,目前已有国内外多个客户选择其用于其单晶体的科研工作。
 
 
部分测试数据展示:
单晶硅测试结果                                     Al2O3测试结果
 
样机体验:
 
       为了便于广大客户全面了解和亲身体验新一代X射线单晶定向系统s-Laue,Quantum Design中国公司引进了s-Laue样机,目前该设备已安装于我公司实验室并调试完毕。即日起,我们欢迎对该设备感兴趣的老师和同学来访,我们在Quantum Design中国样机实验室恭候大家的到来。

 
相关产品
1、新一代X射线单晶定向系统-s-Laue

关注公众号

移动端浏览
热线电话:010-85120887

Copyright © 2024QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司 All Rights Reserved    备案号:京ICP备05075508号-3

技术支持:化工仪器网
管理登录    sitemap.xml