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散射式近场光学显微镜(neaSNOM)助力有机半导体的分子取向探究

发布时间: 2021-08-12  点击次数: 349次

导读:

布拉迪斯拉发进材料应用中心(Center of Advanced Material Applications in Bratislava)的科研工作者用对光致各向异性有不同响应的超高分辨散射式近场光学显微镜-neaSNOM,研究了有机半导体薄膜的分子取向与离散分子结构异质性的关系,揭示了分子取向对分子缺陷的影响。


在此过程中,作者自创了种综合用振幅和相位信号测量分子取向的方法。



上图:用Neaspec设备表征材料得到的s-SNOM结果

文献解析:

近年来, 共轭高分子以及小分子在有机电子设备方面的应用受到广泛关注,这是因为相比于无机半导体,它们在以下方面展现了其潜在势:应用适配性、生物相容性、以及相对简单的制备过程。简单的制备过程也吸引化学家设计并研发了具有各种不同结构和功能基团的共轭分子,以此来满足有机电子设备的需要。而电导率作为重要的功能指标之,与分子的取向息息相关。考虑到大多数分子都是各向异性的,分子取向将直接影响其光电性(也就是能量转换效率)和机械性。而根据具体应用的不同,设备需要种定的分子取向以满足其需要,并且此时其他的分子取向会被视为材料的缺陷。也因此,缺陷分析在有机半导体设备的开发与改进工作中,起到了举足轻重的作用。然而,对尺寸小于100 nm缺陷的判定直是块未被充分研究与记录的域。

光学技术是表征分子取向的主要手段。而衍射限的存在限制了其测量精度,致使得到的光学响应信号体现的只是(精度范围内)很多纳米颗粒的平均情况。面对该问题,德国Neaspec公司历经多年研发出散射式近场光学显微镜(scattering-type scanning near-field optical microscopy,s-SNOM)。该设备突破衍射限(于10 nm空间分辨率)并完成了超高空间分辨率的纳米成像。它能表征薄膜材料的固有纳米晶体结构、局部多晶型、异质性或应变性以及反应分子取向等信息。尽管近些年技术方面的进步日新月异,用s-SNOM分析分子取向的工作却迟迟没有进展,眼下只有寥寥几篇的相关报告得以被发表。在本文中,作者深入研究了分子取向,并对离散分子结构的异质性做了分析。在此之上,作者观察到了与表面形貌并不相关的定向缺陷。这些缺陷对有机电子系统的功能性产生了直接的影响。

参考文献

[1] Nanoimaging of Orientational Defects in Semiconducting Organic Films, [J]. The Journal of Physical Chemistry C, 2021, 125(17):9229-9235.


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1、超高分辨散射式近场光学显微镜-neaSNOM


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