第二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜在杭安装验收

安装篇

2020年春节前夕，通过工程师的安装调试和细致的讲解培训，第二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜（PSM II）在杭州创新研究院顺安装并完成验收。该系统是国内第二套PSM II，也是国内第六套PSM。PSM II将用于块体和薄膜热电材料的塞贝克系数、均匀度检测与新型热电材料的研究。这套设备的投入使用将帮助杭州创新研究院在热电材料域取得更快的发展。

德国工程师Dieter Platzek（中）与用户老师合影

设备篇

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的款可以精确测量热电材料Seebeck系数二维分布的设备。自推出以来，该设备获得多个实验室的*，已经成为快速精准检测样品性能的重要手段。后经研发人员的进步升，全新推出的第二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜-PSM II具有更高的位置分辨率和测量精度。

产品点：

• 可以精确测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。

• 精确的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。

• 采用锁相技术，精度超过大型测试设备。

• 快速测量、方便使用，可测块体和薄膜。

主要技术参数：

位置定位精度：单向 0.05μm；双向 1μm

大扫描区域：100 mm × 100 mm

测量区域精度：5μm (与该区域的热传导有关)

信号测量精度：100 nV （采用高精度数字电压表）

测量结果重复性：重复性误差于3%

塞贝克系数测量误差：< 3% (半导体)；< 5% (金属)

电导率测量误差：< 4%

测量速度：测量个点的时间4~20秒

应用域：

• 热电材料、超导材料、燃料电池、电子陶瓷以及半导体材料的均匀度测量

• 测量功能梯度材料的梯度

• 观察材料退化效应

• 监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移

• 固体电介质材料中的传导损耗

• 阴材料的电导率损耗

• 巨磁阻材料峰值温度的降低，电阻率的变化

• 样品的质量监控

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜-PSM II